涵盖近红外到软X射线范围的半导体光电二极管的光谱、角度和偏振特性 Terubumi Saito

《Quantum Beam Science》：Spectral, Angular and Polarizing Properties of Semiconductor Photodiodes Covering the Near-Infrared to Soft X-Ray Range Terubumi Saito

　　

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摘要

有些无窗半导体光电二极管不仅能检测光子，还能检测带电粒子，覆盖了包括电离辐射区域在内的宽光谱范围，因此在同步辐射实验中发挥着重要作用。为了理解半导体光电二极管的光谱、角度和偏振特性，人们基于使用菲涅耳方程的严格公式计算了复杂的透射或反射系数，这些公式考虑了组成材料的复光学常数，并通过与实验结果的比较验证了其有效性。具体示例展示了这些光电二极管在复平面上的行为，这些行为取决于复光学常数、薄膜厚度、入射角度和波长。研究结果表明，层状系统的光学特性对其层厚度、入射角度以及紫外区域的波长非常敏感，在该区域组成材料的光学折射率会发生急剧变化。研究表明，斜入射光电二极管可用作偏振敏感器件；同时，利用复平面上表示的振幅系数进行图形分析是一种有效且有力的方法，有助于寻找复光学常数、薄膜厚度和/或入射角度的最佳条件。