《Ceramics》:Effect of MoO3 Doping on the Microstructure and Magnetic Properties of Mn0.816Zn0.091Fe2.093MoxO4
Shuxin Liu,
Xinglian Song,
Changchun Wang,
Wenju Liao,
Zhen Wang and
Haomiao Yu
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研究人员采用传统固相法制备Mn-Zn铁氧体,通过调控烧结温度与MoO3(三氧化钼)掺杂比例,系统探究其结构与磁性能的演变规律。实验以Fe2O3、MnO和ZnO为主要原料,在1125~1165°C、氧浓度1.5%条件下,设置MoO3摩尔掺杂量0~1000 ppm
研究人员采用传统固相法制备Mn-Zn铁氧体,通过调控烧结温度与MoO3(三氧化钼)掺杂比例,系统探究其结构与磁性能的演变规律。实验以Fe2O3、MnO和ZnO为主要原料,在1125~1165°C、氧浓度1.5%条件下,设置MoO3摩尔掺杂量0~1000 ppm。结果表明,适量MoO3掺杂可提升品质因数(Q值)并降低损耗;X射线衍射(XRD)证实样品均形成单一尖晶石结构;扫描电镜(SEM)观察显示晶粒尺寸随MoO3含量增加而增大,与晶粒生长动力学增强趋势一致。在1150°C烧结、MoO3掺杂500 ppm的优化条件下,材料综合性能最优:25°C时Q值为22.3,100°C时为15.7;室温下500 kHz测试频率Q值为192.4,1 MHz时为137.2;对应损耗分别为27.1 kW/m3(25°C、500 kHz)、53.6 kW/m3(100°C、500 kHz)、88.2 kW/m3(25°C、1 MHz)、183.7 kW/m3(100°C、1 MHz)。此外,晶格常数稳定在8.52~8.53 ?,表明结构稳定性良好。
该研究发表于《Ceramics》,针对高频电力电子、开关电源等领域广泛应用的Mn-Zn铁氧体软磁材料在高频率、小型化、低损耗发展趋势下面临的晶粒均匀性与致密度瓶颈,开展MoO3掺杂调控研究。研究人员采用传统固相法,以Fe2O3、MnO、ZnO为原料,设计正交实验覆盖1120~1165°C烧结温度与0~1000 ppm MoO3掺杂梯度,结合X射线衍射(XRD)、X射线光电子能谱(XPS)、扫描电镜(SEM)与能谱(EDS)、B-H分析仪及高精度电感元件测试仪,系统表征晶体结构、价态分布、微观形貌及磁滞回线、品质因数(Q值)、损耗、有效磁导率等性能,揭示MoO3掺杂浓度、工艺条件与微观结构、磁性能的关联机制,为解决常规Mn-Zn铁氧体高温高频损耗过高问题提供支撑。
研究人员采用的主要关键技术方法包括:基于正交实验设计的多因素工艺调控,覆盖烧结温度与MoO3掺杂浓度梯度;采用XRD分析物相组成,XPS表征元素价态,SEM-EDS观察微观结构与元素分布;通过B-H分析仪测量磁滞回线,高精度电感元件测试仪测试Q值、损耗与有效磁导率;在25°C/100°C温度与500 kHz/1 MHz频率下模拟实际工况开展性能评估。
研究结果如下:
3.1 MoO3掺杂浓度对Mn0.816Zn0.091Fe2.093MoxO4性能损耗的影响
3.1.1 不同烧结温度对性能损耗的影响。研究发现损耗随MoO3掺杂浓度增加呈先降后升趋势,500 ppm时最低;1150°C烧结样品整体损耗最低,此时晶粒结构与晶界电阻达到平衡,磁性能最稳定。适量MoO3可促进晶粒细化、降低孔隙率、提升晶界电阻,通过抑制磁滞损耗与涡流损耗实现Q值提升,该效应遵循“适量有益、过量有害”规律,归因于低浓度Mo6+部分取代Fe3+并在晶界形成高阻层,有效降低涡流损耗。
3.1.2 不同测试温度与频率对性能损耗的影响。1 MHz下损耗普遍高于500 kHz,源于高频下磁畴壁响应滞后与涡流损耗增加,MoO3对损耗的优化效应随频率升高而减弱。25°C与100°C下损耗均随掺杂浓度呈先降后升趋势,500 ppm时最低,此时材料磁畴结构稳定、内应力低,磁滞损耗与涡流损耗协同降低;过量掺杂(>500 ppm)导致孔隙率与孔径增大,磁畴壁运动阻力增加,损耗上升。100°C下损耗显著高于25°C,源于高温诱导磁畴热扰动,芯损增加且掺杂调控效应被削弱。
3.2 MoO3掺杂浓度对Mn0.816Zn0.091Fe2.093MoxO4铁氧体结构与磁性能的影响
3.2.1 结构与形貌演变。SEM观察显示,随MoO3含量增加,微观结构显著变化:250 ppm时存在少量微小孔隙与分散杂质颗粒;500 ppm时组织均匀致密、晶粒发育良好无异常生长,孔隙率低,Mo元素富集于三叉晶界与晶界处填充孔隙,为优异磁性能提供结构基础;750 ppm时孔隙率逐渐升高、晶粒尺寸增大,符合晶粒生长动力学增强规律;1000 ppm时密度显著降低、孔隙率升高且孔径明显增大,成为磁性能劣化的关键因素。XRD分析证实所有样品均为典型尖晶石结构,无杂相峰,Mo6+成功掺入晶格未破坏主相结构;晶格常数稳定在8.52~8.53 ?,符合“适量掺杂不引起显著晶格畸变”的结构稳定性规律;晶粒尺寸随掺杂浓度逐渐增加,与SEM观测结果一致。XPS分析表明,Mo6+引入调控Fe、Mn价态环境,诱导电荷补偿使部分Fe2+氧化为Fe3+,促进Mn保持高价态以减少氧空位,Zn2+配位环境保持稳定,从电子结构层面为性能优化提供依据。
3.2.2 磁性能变化。磁滞回线显示,100°C下回线略陡,饱和磁感应强度小幅下降,源于热能增强磁畴壁运动活性与热激发扰动磁矩取向。饱和磁感应强度随掺杂浓度先升后降,矫顽力先降后升,与晶粒尺寸、致密度及磁畴结构变化直接相关。500 ppm掺杂时,晶粒生长与致密化协同最优,孔隙少、晶粒尺寸适宜,磁畴壁运动更易、磁矩取向更有序,实现更高磁感应强度与更低矫顽力,软磁性能最佳。Q值与有效磁导率测试表明,Q值随掺杂浓度先升后降,500 ppm时达峰值,源于适量MoO3作为助烧剂促进晶粒细化、降低孔隙率、提升致密性,进而降低矫顽力、减少损耗;有效磁导率呈先降后升趋势,初期因晶粒细化减少畴壁数量阻碍位移,后期因晶粒长大缩短畴壁位移距离。高温高频下Q值与有效磁导率普遍低于室温低频条件,源于热扰动与高频滞后效应削弱掺杂的正向调控作用。
讨论与结论部分总结:研究通过系统调控烧结温度与MoO3掺杂比例,明确0~1000 ppm掺杂范围内样品均保持单一尖晶石结构,晶格常数稳定,晶粒生长符合动力学规律。确定1150°C烧结、500 ppm MoO3掺杂为最优工艺,该条件下材料在高温(100°C)、高频(1 MHz)下仍保持最优性能,进一步验证了MoO3掺杂“适量有益、过量有害”的特性。研究成果为高性能Mn-Zn铁氧体的成分设计与工艺优化提供了实验依据,对提升高频电力电子器件的效率与可靠性具有重要意义。