一种新的通用技术,用于制备平面视图FIB(场发射扫描电子显微镜图像),无需额外设备或手动操作

《Ultramicroscopy》:New universal technique for plan-view FIB preparation with no additional equipment or manual manipulations

【字体: 时间:2026年05月25日 来源:Ultramicroscopy 2

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  Adrian Zavodov|Ilya Krupatin•这种新的平面视图FIB(场发射显微镜)制备方法无需手动调整样品位置。•无需额外的设备、预倾斜装置或旋转操作器。•所有制备步骤都在一次加载过程中完成,且无需对FIB相机进行通风处理。•所有操作均使用FIB的倾斜旋转装置和标准

  
Adrian Zavodov|Ilya Krupatin
  • 这种新的平面视图FIB(场发射显微镜)制备方法无需手动调整样品位置。
  • 无需额外的设备、预倾斜装置或旋转操作器。
  • 所有制备步骤都在一次加载过程中完成,且无需对FIB相机进行通风处理。
  • 所有操作均使用FIB的倾斜旋转装置和标准Cu网格支架来完成。
  • 这种新的平面视图方法可以应用于任何FIB系统。
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