用于透射电子显微镜（TEM）图像中自动识别碳纳米材料的跨尺度注意力网络

《Ultramicroscopy》：Cross-scale attention network for automated carbon nanomaterial recognition in TEM images

　　

刘文博|崔艳艳|何明辉

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  基于多分辨率卷积神经网络（CNN）和跨尺度注意力机制的透射电子显微镜（TEM）图像分析方法。
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  辅助的监督式注意力模块提升了分类准确率。
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  在5323张碳纳米结构的TEM图像上实现了94.8%的准确率。
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  性能优于VGG-16、ResNet-50、U-Net和EfficientNet等基线模型。
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  提供了一个可扩展的框架，用于自动化的高通量TEM分析。