提升现代电子系统的设计水平、可靠性和安全性

《IEEE Design & Test》：Advancing Design, Reliability, and Security in Modern Electronic Systems

　　

（此处为组合图像的替代方案示例，例如：图5：1000116）

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本期《IEEE Design&Test》汇集了一系列多样且及时的文章，反映了我们领域的持续发展。本期内容包括多篇具有普遍意义的论文、一篇教程文章，以及两篇会议报告和一篇名为《The Last Byte》的文章。

本期核心是五篇具有普遍意义的论文，涵盖了设计、可靠性和安全性交叉领域的多个主题。这些论文包括：“利用大型语言模型连接RTL和断言生成”、“第一个侧信道保护神经网络的ASIC tape-out”、“针对反相器-传输门电路的可靠性提升的老龄化感知时序模型”、“评估温度升高下3-D闪存保持可靠性”以及“使用随机森林分类器检测HLS硬件木马”，它们突出了塑造现代电子系统的新兴挑战和创新解决方案。

作为补充，还有一篇关于安全高效固件交付的教程文章，随着系统之间联系日益紧密且安全性日益重要，这一主题也变得越来越重要。

本期还收录了来自ICCAD 2025和ASP-DAC 2026的会议报告，提供了设计自动化领域的最新进展和趋势信息。

特别感谢Scott Davidson撰写的《The Last Byte》文章《黑盒子》。

我们希望本期内容的广度和深度既能提供信息，也能激发读者的灵感。

希望您喜欢阅读这期《IEEE Design&Test》。