通过表面功能化样品制备实现相关微光谱与全反射X射线荧光技术的结合

《Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy》:Enabling correlative micro-spectroscopy with total reflection X-ray fluorescence via surface-functionalized sample preparation

【字体: 时间:2026年06月01日 来源:Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy 3.2

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  K.B. Siebers|E.S. Jongeleen|A.C.M. Brouwer|L.D.B. Mandemaker|B.M. Weckhuysen|P. Kregsamer|D. Ingerle|P. Wobrauschek|C. Streli|F. Meirer•通过选择

  
K.B. Siebers|E.S. Jongeleen|A.C.M. Brouwer|L.D.B. Mandemaker|B.M. Weckhuysen|P. Kregsamer|D. Ingerle|P. Wobrauschek|C. Streli|F. Meirer
  • 通过选择性表面功能化处理,制备了用于透射X射线荧光(TXRF)分析的样品;该处理使得反射表面被划分为亲水区和疏水区。
  • 分析物在反射表面上的几何位置得到了精确控制,确保其位于亲水区域内。
  • 马兰戈尼(Marangoni)干燥技术改善了颗粒在受限空间内的分布情况,从而可以利用激光扫描共聚焦荧光显微镜对单个颗粒进行表征。
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