扫描电子显微镜（SEM）中的STEM技术：迈向金属纳米团簇的高通量成像与分析

《Ultramicroscopy》：STEM in an SEM: Towards High-Throughput Imaging and Analysis of Metal Nanoclusters

　　

陈一帆|迈克尔·W·费伊|沃尔夫冈·泰斯|迈克尔·迪克森|克里斯托弗·D·帕门特|埃默森·C·科尔劳施|杰苏姆·阿尔维斯·费尔南德斯|保罗·D·布朗|昆廷·M·拉马塞|德米·凯帕普茨格鲁|安德烈·N·赫洛比斯托夫

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  STEM-in-SEM技术提供的Z轴对比度可与AC-STEM技术相媲美。
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  通过相同位置的成像实现了定量校准。
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  在STEM-in-SEM技术中，能够可靠地量化直径小至约45个原子（约0.95纳米）的纳米簇。
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  高通量成像技术使得纳米簇的表征更加高效。
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  该技术兼容自动化的大规模分析工作流程。