基于HAUP方法的发展，用于同时测量各向异性介质中对角线附近位置的线性双折射和二向色性

《Scientific Reports》：Development of HAUP-based method for measuring simultaneously linear birefringence and dichroism near diagonal position in anisotropic media

　　

摘要

光学各向异性是凝聚态物质的基本光谱特性，对于理解其电子结构、分子取向和对称性至关重要。其中，线性双折射（LB）和线性二向色性（LD）尤为重要，因为它们反映了正交偏振光分量之间的折射率和吸收系数的差异。高精度通用偏振仪（HAUP）方法因其高灵敏度而被广泛用于测量LB和LD。传统的HAUP测量原理基于消光位置，即透射光强度最小化的位置。然而，对于强吸收样品或在光强度较弱的短波长区域，这种测量方法变得具有挑战性。为了克服这些限制，我们开发了一种基于对角位置的HAUP测量原理，即透射光强度最大化的位置。测量方程在对角位置附近展开，从而形成了与消光位置方法不同的方程结构。这种配置简化了测量过程，消除了二维测量，并避免了偏振器和分析器的寄生椭圆率等系统误差。我们将这种测量原理应用于MgF₂以及强吸收的高温铜氧化物超导体Bi₂Sr₂CaCu₂O_8+δ晶体。测量得到的LB和LD值与传统消光位置方法的结果非常吻合。