基于三维扫描的离散元建模、接触参数标定以及甜菜根系的验证
《Applied Sciences》:Three-Dimensional Scanning-Based Discrete Element Modeling, Contact Parameter Calibration, and Validation of Sugar Beet Roots
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时间:2026年06月19日
来源:Applied Sciences 2.5
摘要
为提高甜菜根系离散元模型的准确性,首先从三维扫描数据中重建根系几何结构,并在EDEM2024中以多球体簇的形式进行表示。采用赫兹-明德林(无滑动)模型来描述颗粒间的接触行为。通过落锤反弹实验、斜面滑动实验以及斜面滚动实验来确定根系与Q235钢材的接触参数。对于根系之间的相互作用,则结合圆柱体提升静止角模拟、最速上升法以及三因素二次正交旋转回归模型进一步优化这些参数。最终得到的优化后的根系间恢复系数、静摩擦系数和滚动摩擦系数分别为0.534、0.728和0.080。使用该参数组后,模拟得到的静止角与实际测量值的偏差仅为0.86%,而在独立验证测试中的误差则为1.5%。这些结果表明,所提出的离散元模型及校准后的参数组能够准确呈现甜菜根系的运动和接触行为。
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